目的建立以焦点胶片距离的改变，取得Ｘ线阶段曝光的屏片体系感光测定方法。方法利用常规Ｘ线机在焦点胶片距离４０～３２０ｃｍ的范围内，取７个距离曝光点，对ＯｋａｍｏｔｏＤＭＳ（蓝屏）／ＦｕｊｉｎｅｗＲＸ（感蓝片）及ＦｕｊｉＨＲＲｅｇｕｌａｒ（绿屏）／ＦｕｊｉＨＲＮ（感绿片）两种屏片体系样本做感光测定，绘制特性曲线、斜率密度曲线，求取特性值。同时与感光仪和铝梯定量测定法（Ｂｏｏｔｓｔｒａｐ法）作比较。结果（１）测试用Ｘ线机的平均管电压值、高压纹波率、输出剂量、曝光时间等四项指标的变动系数均小于０．０２，重复性良好。（２）Ｘ线强度与距离平方在测试距离内呈线性关系，倾斜值为－２．０４，证明本实验中的“距离反平方定律”成立。（３）实验证明，距离法的曝光条件确定在６０～８０ｋＶｐ，ｍＡｓ以在距离８０．３ｃｍ［相对曝光量对数（ＬｏｇＲＥ）＝１．２］时得到２．０＋本底灰雾的密度值为调节指标，总滤过３．０ｍｍＡｌ＋０．５ｍｍＣｕ（三相工频机）或３．５ｍｍＡｌ（中频机）。结论距离法与感光仪法、时间阶段曝光法、铝梯定量法相比，重复性较好，曝光机制符合Ｘ线摄影实际，便于统一。